Buscar por Autor Cajas Buenaño, Mildred
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| Fecha de publicación | Título | Autor(es) | Director(es) | Tribunal (Tesis) |
| 25-dic-2019 | Análisis comparativo del nivel de defectuosidad en los dispositivos de potencia SiC n-MOSFETs. | Guevara, Esteban; Tinajero, José Luis; Guevara, Mauro; Cajas Buenaño, Mildred | - | - |
| 15-jun-2020 | Aplicación de mediciones de ruido de baja frecuencia para el análisis de efectos de estrés térmico y eléctrico en dispositivos de potencia. | Berrones, Sofía; Barcia Macías, Ronald Marcelo; Cajas Buenaño, Mildred; Morocho Caiza, Andrés | - | - |
| 6-ene-2021 | Control PID de procesos autoregulados e integrantes sintonizados con el método lambda. | Guagchinga, Fabián; Calvopiña, Paola; Alpúsig, Silvia; Cajas Buenaño, Mildred | - | - |
